Kageyama, Makoto (Hrsg.); Nakamura, Keiko (Hrsg.); Oshima, Tairo (Hrsg.); Uchida, Tsuneko (Hrsg.); Beck, M. T.; Benson, A. A.; Braunstein, A. E.; Broda, E.; Calvin, M.; Campbell, P. N.; Chargaff. E.; Cheng, D. M.; Cohen. S. S.; Cramer, F.; Desnuelle, P.; Dodgson, K. S.; Dorfman, A.; Ebert, J. D.; Edsall, J. T.; Essen - Möller, J.; Fox, S. W.; Friebele, E.; Fruton, J. S.; Gest, H.; Hakomori, S.; Hoffmann - Ostenhof, O.; Högberg, B.; Horecker, B. L.; Isaksson. M.; Jayaraman, K.; Jordan, D. K.; Kamen, M. D.; Kan, L. - S.; Katchalski - Katzir, E.; Krasnovsky, A. A.; Lederer, E.; Leutzinger, E.; Lewin, R. A.; Lima - de - Faria, A.; Ljungdahl, L. G.; MacGregor, J. S.; Mark, H.; Meyer, T. E.; Miller, P. S.; Mothes, K.; Nakanishi, K.; Neergaard, P.; Neilands, J. B.; Nicholas, D. J. D.; Momura, M.; Olsson, E.; Oró, J.; Ovchinnikov, Yu. A.; Ponnamperuma, C.; Pontremoli, S.; Pullman, B.; Quastel, J. H.; Roberts., E.; Roche, J.; Schidlowski, M.; Shugar, D.; Shimooyama, A.; Sibatani, A.; Slater, E. C.; Sueoka, N.; Todd, Lord A. R.; Ts'p, P. O. P.; Tsou, C. L.; Tsutsui, M.; Udenfriend, S.; Wang, Y. - L.; Witkop, B.; Yamada, T.; Yuasa, S.